HAST高加速應(yīng)力試驗系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓hast-400
試驗箱適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。
HAST高加速應(yīng)力試驗系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓hast-400
HAST高加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
HAST高加速應(yīng)力試驗系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓hast-400
HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗機,是用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設(shè)備,其目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力、加快試驗過程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業(yè)。 |