德國尼克斯QuaNix4500涂層測厚儀
◆無需校準片校準
◆鐵基/非鐵基兩用探頭
◆輕便：重量只有110g
無需校準：多數測厚儀除了校零外，還需要用標準片進行調校。測量某一范圍厚度，要用某一范圍的標準片調校。主要是不能滿足全范圍內的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會因標準片表面粗糙失效，增大系統誤差。
溫度補償：涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術，以保證不同溫度下的測量精度。
紅寶石探頭：探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會帶來很大的誤差。
獨特的直流采樣技術：使得測量重復性較傳統交流技術有無可比擬的優越和提高。
單探頭量程大：0－5mm
1.只需調零、無需校準
2.Fe/NFe兩用探頭
3.一體化設計
4.自動開關機
型 號：4500
基 體：Fe/NFe
探頭形式：一體
顯 示：LCD數字顯示
測量范圍：Fe:0-3000μm / NFe：0－2000μm
測量精度：0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%，2000－5000μm≤±3%
顯示精度：1μm
工作溫度：－10 － ＋60℃
溫度補償：0－50℃
最小基體：10mm×10mm
最小曲率：凸、凹半徑：3mm/25mm
最薄基體：Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
電 源：5號電池2節
重 量：110g
尺 寸：110×60×27mm
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德國QuaNix 4200一體式涂層測厚儀
德國Automation公司成立于1958年。長期以來一直致力于開發、研制、生產涂層測厚儀。早在公司創始人尼克斯（Dr.Nix）博士的父親即開始研究涂層測厚儀。自發明世界上*一臺測厚儀以來，尼克斯家族經過幾代人的努力，為測厚儀領域做出了杰出貢獻。同時，也保持了技術領先。在儀器的精度和抗干擾性方面，注冊了多項專利。成為當今涂層測厚儀的獨特優點。
QuaNix 4200 涂層測厚儀的性能：
1.只需調零、無需校準
2.Fe/NFe兩用探頭
3.一體化設計
4.自動開關機
QuaNix 4200 涂層測厚儀的技術參數
型 號
QuaNix 4200
QuaNix 4500
基 體
Fe 磁性
Fe/NFe 磁性非磁性
探頭形式
一體
顯 示
LCD數字顯示
測量范圍
0－3000μm
Fe:0-3000μm
NFe：0－2000μm
測量精度
0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%，
2000－5000μm≤±3%
顯示精度
1μm
工作溫度
－10 － ＋60℃
溫度補償
0－50℃
最小基體
10mm×10mm
最小曲率
凸、凹半徑：3mm/25mm
最薄基體
Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
電 源
5號電池2節
重 量
110g
尺 寸
110×60×27mm |
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