測量固體材料的太陽吸收和法向發射特性測量裝置
MJLD型吸收率和法向發射率測量裝置
產品介紹
MJLD型吸收率和法向發射率測量裝置，主要用于測量材料的太陽吸收比和法向發射率。它是將吸收率測量裝置和法向發射率測量裝置合為一體，配有計算機和專用工作軟件，實現自動測量的先進測量設備。本裝置是由國防航天軍工科技企業和航天著名專家研究員聯合研制。是航天系統測量專家的智慧結晶。本設備是國內首創，填補國內測量材料太陽吸收比和法向發射率儀器的空白，同時在測量方法上有進一步的創新。
主要用途
測量固體材料的太陽吸收和法向發射特性。
技術指標
吸收率
◆測量范圍：0.02～0.99
◆工作溫度范圍：-30～80℃
◆測量不確定度：當αs＞0.8 為±2.0％；當εn＜0.2 為±4％；其余為2.5％
◆積分球直徑：Φ150
◆光源高色溫：220V300W
◆探測器：真空平面熱電堆
◆工作波長：0.3 5～2.5μm
法向發射率
◆測量范圍：0.05～0.99
◆工作溫度范圍：-30～80℃
◆測量不確定度：當εn＞0.7 為±1.5％；當εn＜0.2 為±5％；其余為2％
◆探測器：平面熱電堆
◆峰值波長：8.4～11μm |
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