英國ABI-BM8300多功能集成電路及電路板故障診斷產(chǎn)品綜述
數(shù)字集成電路測試的高級測試模塊(ATM)
提供了1個數(shù)字集成電路功能測試模塊,其具有64個量測通道,可提供多種的量測功能.這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測試(在線/離線測試),集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測,并連同在無電源供給的情形下使用的VI曲線的測試功能.
該模塊是升級產(chǎn)品,是數(shù)字集成電路測試的高級測試模塊,系統(tǒng)提供信息更全面,更準確.測試條件更豐富,仿真測試輸入條件電壓電流可以根據(jù)需要-10V~+10V之間自己定義,檢測輸出的電平也可以自己定義.6500模塊可以更好的檢測測試庫以外的元器件,實現(xiàn)電路板仿真測試更加方便快捷.
模擬集成電路測試功能模塊(AICT)
在模擬集成電路測試儀中允許模擬集成電路和分立集成電路進行功能測試.所有常見的模擬集成電路皆可以測試,系統(tǒng)會依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)來作功能測試,不需要編輯程序或參考電路圖.在該模塊中還包括了完整的V-I曲線測試功能,電路板或集成電路可在無電源供給的情形下,得到清楚易懂的圖形化測試結(jié)果.2500模塊包含標準模擬器件參數(shù)測試庫。
數(shù)字可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊(VPS)
此模塊可提供集成電路或電路板在進行測試時所必要的電源.其具有三組可調(diào)式電源輸出,并同時具有過電壓及過載保護功能.
Digital IC Test 數(shù)字集成電路測試功能
具64個量測通道 (64通道X1組模塊).八組輸出隔離信號.可進行集成電路的功能測試、電壓測量、接腳連接測試、溫度指數(shù)及V-I曲線量測.內(nèi)建邏輯時序信號測量功能、EPROM 數(shù)據(jù)比對功能、數(shù)字集成電路搜尋功能等.并可針對數(shù)字邏輯位準進行調(diào)整,另外可自動定位集成電路接腳及電路狀態(tài)比對功能.
Analogue IC Test 模擬集成電路測試功能
具有24組測試通道及外加一組的分離集成電路測試信道.內(nèi)建集成電路數(shù)據(jù)庫可測量模擬放大器、比較器、光耦合器、晶體管、二極管及特殊功能的集成電路.可針對模擬集成電路進行功能測、連接狀態(tài)測試及電壓測量.并具有自動定位集成電路接腳及電路狀比對功能.
Digital V-I Test 數(shù)字式V-I曲線測試功能
具64量測通道(64通道X1個模塊).可調(diào)整測量信號電壓范圍.針對數(shù)字集成電路可達到有效的測量結(jié)果.
Analogue V-I Test 模擬式V-I曲線測試功能
具有24量測通道及外加二組獨立測量通道.其具有可調(diào)頻率、可調(diào)電壓、可調(diào)輸出阻抗及選擇測量波形功能.并可選擇波形顯示模式:V-I、V-T及I-T三種顯示模式.二組同步可變脈寬的信號輸出.內(nèi)建測量線路補償功能.具有外接盒可供選配.
Matrix V-I 矩陣式V-I測試功能
具有24組矩陣式的測量通道.單一波形多重顯示的方式，并可直接進行測量波形的比對功能,并以條狀圖的方式來顯示各通道信號的差異百分比.
Graphical Test Generator 數(shù)字時序編輯功能
具有64個信號通道可供編輯數(shù)字時序信號,每個通道可設(shè)定輸出、輸入及雙向狀態(tài).并可讀取數(shù)字向量信號、并且儲存之后再進行比對.
Short Locator 短路電阻測量功能
具有三段低電阻測量范圍,可以圖示及聲音來判斷目前短路的位置.
Variable Power Supply 可調(diào)型電源輸出功能
邏輯電源輸出的可調(diào)電壓范圍為2.5V到6V并具有過電壓跳脫功能.另外有可調(diào)式的正負電源輸出,其可電壓可調(diào)范圍為-24V到+24V.其輸出電流能力可達1A.
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