LTE測試白卡
LTE測試卡、4G測試卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM測試卡、CDMA測試卡、UIM測試卡、RUIM測試卡、WCDMA手機測試、TD-SCDMA測試卡、CDMA2000測試卡、手機測試卡(又稱白卡)，使用于通訊工業生產的信號測試（LTE（Long Term Evolution，長期演進)是由3GPP組織制定的UMTS技術標準的長期演進，于2004年12月3GPP多倫多TSG RAN#26會議上正式立項并啟動。LTE系統引入了OFDM和多天線MIMO等關鍵傳輸技術，顯著增加了頻譜效率和數據傳輸速率（峰值速率能夠達到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s），并支持多種帶寬分配：1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，頻譜分配更加靈活，系統容量和覆蓋顯著提升。LTE無線網絡架構更加扁平化，減小了系統時延，降低了建網成本和維護成本。LTE系統支持與其他3GPP系統互操作。FDD-LTE已成為當前世界上采用的國家及地區***廣泛的，終端種類***豐富的一種4G標準。）。常用于LTE手機、4G手機、FDD手機、GSM手機、UIM手機、RUIM手機、CDMA2000手機、配合綜合測試儀以及自己搭建的網絡對手機進行無干擾綜合測試；手機在生產中需要對成品進行相關信號測試，卻要進行大規模屏敝，需動用更多的人力物力及測試時間，使生產工藝繁雜及成本增加，測試卡可以實現信號至儀器到手機的路徑，讓測試環境更加簡潔，很好的解決了這一繁鎖問題。測試卡可進行偶合測試，誤碼率測試、具有齊備的VCC和RSTB，可用于終端和綜測儀測試等。
產品品質保證：
我們公司的LTE測試卡、4G測試卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、測試卡、GSM測試卡、CDMA測試卡、UIM測試卡、RUIM測試卡、WCDMA手機測試、TD-SCDMA測試卡、CDMA2000測試卡、手機測試卡采用國際著名半導體廠商生產的專用芯片，3V/5V兼容5-6觸點兼容設計，適合一切手機.、配以專用COS系統，全面遵從4G手機、3G對手機、2G手機等，我司的測試卡的各項規范特殊的半導體硅襯，保證卡片可以承受10牛頓／每平方米的壓力。（GSM標準為4牛頓／每平方米）適合工業化生產線使用，采用超長壽命EEPROM，保證讀寫次數在10萬次以上。（3G標準只要求3萬次，按一般生產線測量要求，每部手機的讀寫次數為10次，可測一萬部手機。），專利芯片保護層，保證卡片安全，防電子攻擊。耐壓6.5V以上特殊卡片涂層，抗靜電（ESD），防水（48小時浸泡試驗）特殊卡體材料（ABS混合高溫PVC），耐高溫，45度可正常工作4小時以上。75度溫度沖擊試驗 |
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