D-30型高精度、低本底放射性測(cè)量?jī)x就弱放射性樣品進(jìn)行測(cè)量與分析，被測(cè)樣品可以是電沉積樣品，也可以直接鋪樣。所采用的分析儀器探頭靈敏區(qū)為30mm金硅面壘半導(dǎo)體探測(cè)器，抗干擾屏蔽，本底低，功耗小。廣泛服務(wù)于鈾鐳礦山、地質(zhì)勘測(cè)、地質(zhì)調(diào)查、醫(yī)院、防疫站、非金屬礦山如煤礦、環(huán)境監(jiān)測(cè)站、工廠的水質(zhì)、食品等檢驗(yàn)其樣品的總或者總β放射性活度，具有弱放射性測(cè)量?jī)x功能：
探測(cè)器：金硅面壘f30 mm，
儀器本底：≤2cph。
α≤0.0017cm-2min-1
β≤0.0354 cm-2min-1
率：≥36%（2π,239Pu源）
計(jì)數(shù)容量：99999999
定時(shí)測(cè)量：定時(shí)時(shí)間在1—9999min內(nèi)可選擇設(shè)置
測(cè)量范圍: 5*10-4Bq/kg--5*106Bq/kg
靈敏度：優(yōu)于5?10-4cpm/Bq/kg
穩(wěn)定性：≤5%
準(zhǔn)確性：≤±5％
功 耗：: ≤200mW ； ≤600mW
使用條件：溫度 -5℃～50℃ ； 濕度 ≤95%（40℃）
供電電源：6v蓄電池，充電一次可工作12小時(shí) |
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