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深圳凱智通微電子技術(shù)有限公司
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女士 (銷售工程師) |
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| EMMC測(cè)試治具（inand socket) |
基于SD卡測(cè)試的INAND測(cè)試治具，可稱之為EMMC測(cè)試治具和MOVI NAND測(cè)試治具，他用于測(cè)試EMMC芯片，MOVI NAND芯片，inand芯片，測(cè)試治具的產(chǎn)品特點(diǎn)：A、可直接插SD卡讀卡器連接電腦，支持熱拔插；
B、同時(shí)兼容：東芝（TOSHIBA）、三星（SAMSUNG）、海力士（Hynix）、英特爾（Intel）、Sandisk等所有同樣封裝的moviNAND或iNAND等閃存記體；
C、兼容芯片型號(hào)有：THGBM1G6D4EBA14、KLM2G1DEDD-A101、SDIN4C2-4G等；并兼容不同容量1G/2G/4G/8G......
D、導(dǎo)電體采用進(jìn)口POGO PIN，性能穩(wěn)定、測(cè)試座測(cè)試壽命可達(dá)10 萬(wàn)次以上，是YAMAICHI 和OKINS 同類的彈片座子的壽命的5倍以上；并探針可更換，維修方便，成本低；
E、采用翻蓋式結(jié)構(gòu)，操作方便，效率高；不同大小IC只要換限位框即可實(shí)現(xiàn)不同大小IC的兼容(16x18x0.95、16x18x0.85、16x12x0.８5)；
F、功能一：對(duì)FLASH進(jìn)行測(cè)試，判斷IC的好壞，達(dá)到篩選IC的目的；
G、功能二：可通過(guò)專用量產(chǎn)工具對(duì)FLASH進(jìn)行低級(jí)格式化，是SD卡、U盤、SSD、PDA、手機(jī)、平板電腦等移動(dòng)終端產(chǎn)品廠商的好幫手；
H、如果MMC controller損壞，而IC內(nèi)部的Flash部分未損壞，可用“基于U盤FLASH夾具”(KZT的另一款產(chǎn)品)測(cè)試FLASH的好壞，實(shí)現(xiàn)變廢為寶，既環(huán)保又降低了成本；
INAND測(cè)試治具，他可用于測(cè)試，在線燒錄，也可機(jī)器燒錄，也可以定制單獨(dú)的測(cè)試座 |
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